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鍍層測厚儀XRF-2020功能應(yīng)用及原理

X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析

應(yīng)用實(shí)例圖示

鍍層測厚儀XRF-2020功能應(yīng)用及原理

規(guī)格型號(hào)如下圖所示

三款規(guī)格型號(hào)如下圖所示

鍍層測厚儀MicroP XRF-2020

儀器整機(jī)*，配置全自動(dòng)臺(tái)面，自動(dòng)雷射對(duì)焦,多實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)測量

功能及應(yīng)用：

測量：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層，不限底材。