電鍍層測(cè)厚儀可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度；可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，也適用于無鉛焊錫的應(yīng)用?？蓮V泛應(yīng)用于各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析；分析電子部品電鍍層的厚度；各鍍層的成分比例分析。
電鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理：
采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。
電鍍層測(cè)厚儀選型注意事項(xiàng)：
1.首先需要了解測(cè)試的需求，如測(cè)試基體材料、涂鍍層材料、測(cè)試范圍及精度需求，若濕膜或高溫條件下測(cè)量時(shí)需特別說明。
2.其次對(duì)于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測(cè)量，測(cè)量?jī)x型號(hào)的選擇不受限制。
3.對(duì)于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對(duì)比電鍍層測(cè)厚儀的曲率是否滿足現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量需求，如超標(biāo)需要配置特配探頭。
4.測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)配置包含校準(zhǔn)試片，不能減配，否則影響儀器后續(xù)校準(zhǔn)和測(cè)量精度。
5.選擇使用磁阻式涂層測(cè)量?jī)x時(shí)，使用環(huán)境周圍不能存在磁場(chǎng)。
6.對(duì)于特殊行業(yè)的應(yīng)用需選擇不同類型的傳感器，滄州歐譜比如是否是超厚涂層測(cè)量。
